Eisterer M., Holzapfel B., Schultz L., Huhne R., Usoskin A., Pahlke P., Lao M., Hering M., Siegert M., Stromer J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, template layers, critical caracteristics, PLD process, microstructure, X-ray diffraction, lattice parameter, thickness dependence, texture, critical temperature, critical current density, substrate stainless steel, fabrication, experimental results
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.